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  • 扫描开尔文探针

    开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由上层的1-3层原子或分子决定,所以开尔文探针是一种的表面分析技术。主要型号:KP020 (单点开尔文探针),SKP5050(扫描开尔文探针)。

    更新时间:2020-11-01

    厂商性质:经销商

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