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SPDR介电测试夹具

描述:SPDR介电测试夹具用于测量层状介电材料的复介电常数,包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜;

更新时间:2020-12-16
产品型号:
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详情介绍
品牌自营品牌价格区间面议
应用领域化工,电子,印刷包装,航天,电气

1、SPDR介电测试夹具应用

QWED SPDR用于测量层状介电材料的复介电常数,包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜;还可用于测量各种导电材料(如商用电阻层,导电聚合物薄膜或高电阻率半导体)的表面电阻和电导率。这种测量仅适用于Rs> 5kΩ/平方的大型表面电阻样品。

2、SPDR介电测试夹具厚度为h的样品的测量精度

Δε/ε=±(0.0015 + Δh/h)  

Δtanδ=±2*10-5 或  ±0.03*tanδ 

3、工作频率范围

QWED SPDR使用特定谐振模式。此模式具有特定的谐振频率,具体取决于谐振器的尺寸,但在某种程度上还取决于被测样品的电特性。因此,每个设计的谐振器都只能用于特定的标称频率,并且实际测量是在接近标称频率的频率上进行的。

QWED SPDR基本的标称频率为:1.1 GHz,1.9 GHz,2.45 GHz,5 GHz,10 GHz和15 GHz。可以根据特殊要求制造其他频率在1.1至15 GHz之间的谐振器。

4、工作温度范围

-2700C 至 1100C

5、测量所需的其他设备

微波频率Q表或矢量网络分析仪

6、测量步骤

可测量空谐振器和带有研究样本的谐振器的谐振频率和Q因子。提供了软件来确定介电常数和介电损耗正切。配备安捷伦科技的PNA / ENA系列网络分析仪(带有Option 300的85071E材料测量软件)的用户,只需将QWED应用程序上载到网络分析仪中,并直接在其显示屏上获得终结果。

使用不同网络分析仪的用户需要在标准PC计算机或网络分析仪(如果装有Windows®操作系统)上安装用于介电特性计算的软件。

7、其他

样本的小大小取决于谐振器的工作频率。以下给出了谐振器常用工作频率对应的小样本尺寸。

根据工作频率确定的小样本尺寸

  标称频率 [GHz]     样品的小尺寸/直径 [mm]     样品的推荐尺寸 [mm]     样品的大宽度 [mm]     样品的大厚度 [mm]  
1.1 120×120 / 120 130×180 150 6.0
1.9 70×70 / 70 70×100 100 4.1
2.45 / 2.5 55×55 / 55 70×80 100 3.1
5 / 5.1 30×30 / 30 40×50 90 1.95
10 22×22 / 22 30×50 90 0.95
15 14×14 / 14 20×30 40 0.6

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