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SIPDR电阻率测试夹具

描述:SIPDR电阻率测试夹具用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括表面阻抗Rs <20kΩ/sq的电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

更新时间:2020-12-16
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详情介绍
品牌自营品牌价格区间面议
应用领域化工,电子,印刷包装,航天,电气

SIPDR电阻率测试夹具

SiPDR(单柱介电谐振器)用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括表面阻抗Rs <20kΩ/sq的电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

SIPDR电阻率测试夹具对于半导体晶片,电阻率测量的上限约为1000Ωcm。 具有较高电阻率值的半导体可以使用该谐振器方便地进行测量。所有SiPDR(单柱介电谐振器)都是定制的。

积社科技_QWED_SiPDR单柱介电谐振器原理图

类型

参数

厚度为h的样品的测量精度

±2%

工作频率

5 GHz

工作温度范围

-270°C 至 110°C

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