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有关探针的分类说明

 发布时间:2020-11-04 点击量:553
  关于电学量测使用的探针,一般分为以下几大类,为您做详细的说明
 
  一、概述:
 
  测试针,是用于测试PCBA的一种探针,主要做为电学信号的输入。
 
  表面镀金,内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。
 
  探针的材质:W,ReW, A+
 
  1.目前主要采用的材质为W,ReW, 弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。
 
  2. A+材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此寿命较长。
 
  二、探针分类
 
  探针根据电子测试用途可分为:
 
  A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针;
 
  B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;
 
  C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针;
 
  三、探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。
 
  悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)
 
  垂直探针:垂直型(Vertical Type)
 
  1.ICT探针 (ICT series Probes)
 
  一般直径在2.54mm-1.27mm之间,有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目前应用较多的一种探针.
 
  2.界面探针(Interface Probes)
 
  非标准的探针
 
  3.微型探针(MicroSeries Probes)
 
  两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.
 
  4.开关探针(Switch Probes)
 
  开关探针单独一支探针有两路电流.
 
  5.高频探针(Coaxial Probes)
 
  用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.
 
  6.旋转探针(Rotator Probes)
 
  弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试.
 
  7.高电流探针(High Current Probes)
 
  探针直径在2.54mm-4.75mm之间.大的测试电流可达39amps.
 
  8.半导体探针 (Semiconductor Probes)
 
  直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic
 
  9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)
 
  一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长
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