美国APT开尔文探针：适用于四线法测试 ，以减小线阻和接触电阻对测试的影响 ，保证小电阻的测试准确性。另外 ，一些高频测试 ，比如150M左右 ，也可以采用这个。

美国GGB探针： ST系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。 该探针可以选择表面镀镍， 如果选择 镀镍则型号后面增加 “NP”。

QRUI-5系列探针台：研发的一款在特殊环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的IV/CV特性测试，射频测试 ，光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷 ，可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。

QRUI-1A系列探针台：是一款在非真空条件下实现高低温环境的测试探针台。该产品采用气冷制冷 ，自动控温 ，设备配置非常丰富。自带屏蔽暗室 ，一方面可以屏蔽无线电磁干扰 ，另外一方面也可以保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜。该产品多数用于相关单位实验室。

QRUI-3 系列探针台：一款高配置综合型手动测试探针台, 该系列探针台设备配置丰富 ，基本可以满足一般实验室的全部测试要求。